| 国内学会 20年〜 |
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2020/4/21 更新 |
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タイトル |
講演者 |
共著者 |
講演会名 |
備考 |
| 2020年1月11日 |
SixGe1-x/Ge薄膜におけるGe-K吸収端におけるDAFSスペクトルの測定と解析 |
藤原 孝将 |
| 吉岡 和俊, 横川 凌, 小椋 厚志, 廣沢 一郎 |
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第33回日本放射光学会年会・放射光科学合同シンポジウム |
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| 2020年1月11日 |
X線非弾性散乱によるSiGe(x=0.72)単結晶フォノン分散測定 |
臼田 宏冶 |
米永 一郎, 内山 裕士, 筒井 智嗣, 横川 凌, 小椋 厚志 |
第33回日本放射光学会年会・放射光科学合同シンポジウム |
招待講演 |
| 2020年1月31日 |
ALD法で作製したC-doped及びC-free In2O3膜を チャネルとした酸化物TFTの比較 |
小林 陸 |
生田目 俊秀, 栗島 一徳, 女屋 崇, 大井 暁彦, 池田 直樹, 長田 貴弘, 塚越 一仁, 小椋 厚志 |
「電子デバイス界面テクノロジー研究会 ―材料・プロセス・デバイス特性の物理―」 (第25回研究会) |
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| 2020年1月31日 |
トンネルFET用n型TixZn1-xO1+x及びGa2xZn1-xO1+2xチャネルの検討 |
栗島 一徳 |
小椋 厚志, 知京 豊裕, 長田 貴弘 |
「電子デバイス界面テクノロジー研究会 ―材料・プロセス・デバイス特性の物理―」 (第25回研究会) |
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| 2020年1月31日 |
Origin of Anomalous Phonon State in SiGe Alloys Studied with
Molecular Dynamics |
Sylvia Yuk Yee Chung |
Motohiro Tomita, Ryo Yokogawa, Atsushi Ogura, and Takanobu
Watanabe |
「電子デバイス界面テクノロジー研究会 ―材料・プロセス・デバイス特性の物理―」 (第25回研究会) |
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| 2020年1月31日 |
LiNbO3の極性および焦電効果によるZnOの電気特性制御の検討 |
安原 雄大 |
栗島 一徳, 知京 豊裕, 小椋 厚志, 長田 貴弘 |
「電子デバイス界面テクノロジー研究会 ―材料・プロセス・デバイス特性の物理―」 (第25回研究会) |
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| 2020年3月12日 |
逆格子空間マッピングを用いたGe1-xSnxメサ構造における熱膨張係数評価 |
高橋 祐樹 |
横川 凌, 吉岡 和俊, 小笠原 凱, 廣沢 一郎, 須田 耕平, 小椋 厚志 |
第67回応用物理学会 春季学術講演会 |
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| 2020年3月12日 |
逆格子空間マッピングによるGe1-XSnXメサ構造における原子間隔分布の検討 |
広沢 一郎, |
高橋 祐樹, 吉岡 和俊, 横川 凌, 須田 耕平, 小椋 厚志 |
第67回応用物理学会 春季学術講演会 |
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| 2020年3月12日 |
低Ge濃度SiGe薄膜におけるEXAFS振動の温度とGe濃度依存性の評価 |
吉岡 和俊 |
横川 凌, 高橋 祐樹, 小原田 賢聖, 竹内 悠希, 小笠原 凱, 広沢 一郎, 渡辺 剛, 小椋 厚志 |
第67回応用物理学会 春季学術講演会 |
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| 2020年3月12日 |
UVラマン分光法による単結晶Si1-xSnxの歪換算係数導出 |
横川 凌 |
丹下 龍志, 黒澤 昌志, 小椋 厚志 |
第67回応用物理学会 春季学術講演会 |
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| 2020年3月12日 |
Si基板へのイオン注入とレーザーアニールで作製したSi1-x-yGexSny薄膜の歪評価 |
小笠原 凱 |
小孫 翔大, 横川 凌, 吉岡 和俊, 澤本 直美, Borland John, 黒井 隆, 川崎 洋司, 小椋 厚志 |
第67回応用物理学会 春季学術講演会 |
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| 2020年3月12日 |
MoOx CSC/Si太陽電池のPDAによる特性変動
(3)−表面反転層をﾁｬﾈﾙとするFET-TEGのS/Dｺﾝﾀﾞｸﾀﾝｽによる評価(1)− |
林 豊 |
神岡 武文, 後藤 和泰, 尾崎 亮, 中村 京太郎, 森村 元勇, 宇佐美 徳隆, 大下 祥雄, 小椋 厚志 |
第67回応用物理学会 春季学術講演会 |
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| 2020年3月12日 |
NBS及びPBSによるアモルファスCarbon-doped In2O3 TFTの信頼性評価 |
小林 陸 |
生田目 俊秀, 栗島 一徳, 女屋 崇, 大井 暁彦, 池田 直樹, 長田 貴弘, 塚越 一仁, 小椋 厚志 |
第67回応用物理学会 春季学術講演会 |
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| 2020年3月13日 |
大面積集積化に向けたスパッタ堆積ノーマリーオフMoS2-nMISFETs |
松浦 賢太朗 |
濱田 昌也, 濱田 拓也, 谷川 晴紀, 坂本 拓朗, 堀 敦, 宗田 伊理也, 川那子 高暢, 角嶋 邦之, 筒井 一生, 小椋
厚志, 若林 整 |
第67回応用物理学会 春季学術講演会 |
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| 2020年3月13日 |
単結晶Si太陽電池の薄型化へ向けたスライスダメージ評価 |
原 豊 |
横川 凌, 大西 康平, 神岡 武文, 中村 京太郎, 大下 祥雄, 河津 知之, 長井 俊樹, 山田 昇, 宮下 幸雄, 小椋
厚志 |
第67回応用物理学会 春季学術講演会 |
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| 2020年3月14日 |
液浸ラマン分光法を用いたMoS2のキャリア濃度評価 |
小柳 有矢 |
日比野 祐介, 横川 凌, 若林 整, 小椋 厚志 |
第67回応用物理学会 春季学術講演会 |
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| 2020年3月14日 |
ラマン分光法による多結晶シリコン粒内のナノ結晶構造が及ぼす熱伝導特性評価(II) |
竹内 悠希 |
横川 凌, 高橋 和也, 小森 克彦, 森本 保, 澤本 直美, 小椋 厚志 |
第67回応用物理学会 春季学術講演会 |
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| 2020年3月14日 |
X線非弾性散乱法によるBulk SiGe単結晶フォノン分散曲線の測定 |
横川 凌 |
竹内 悠希, 荒井 康智, 米永 一郎, 内山 裕士, 小椋 厚志 |
第67回応用物理学会 春季学術講演会 |
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| 2020年3月14日 |
プラズマ原子層堆積法で300 °C低温形成した強誘電体HfxZr1-xO2薄膜の疲労特性 |
女屋 崇 |
生田目 俊秀, Jung Yongchan, Heber Hernandez-Arriaga, Mohan Jaidah, Kim
Harrison S., Khosravi Ava, 澤本 直美, 長田 貴弘, Wallace Robert M., Kim Jiyoung, 小椋
厚志 |
第67回応用物理学会 春季学術講演会 |
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| 2020年3月15日 |
照射誘起欠陥を含むSi結晶の発光再結合機構 |
朝原 将太 |
田島 道夫, 佐竹 雄太, 小椋 厚志 |
第67回応用物理学会 春季学術講演会 |
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| 2020年3月15日 |
Zr[N(C2H5)CH3]4と[(t-C4H9)2S2]を用いたMOCVDによるZrS2の成膜 |
山崎 浩多 |
日比野 祐介, 小柳 有矢, 橋本 侑祐, 澤本 直美, 町田 英明, 石川 真人, 須藤 弘, 若林 整, 小椋厚志 |
第67回応用物理学会 春季学術講演会 |
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| 2020年3月15日 |
MoS2(1-x)Te2x混晶のバンド構造の評価 |
日比野 祐介 |
山崎 浩多, 橋本 侑祐, 小柳 有矢, 澤本 直美, 町田 英明, 石川 真人, 須藤 弘, 若林 整, 小椋厚志 |
第67回応用物理学会 春季学術講演会 |
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