国内学会 18年〜19年 |
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2020/4/21 更新 |
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発表年月 |
タイトル |
講演者 |
共著者 |
講演会名 |
備考 |
2018年1月19日 |
上下ZrO2核生成層を用いたHfxZr1-xO2薄膜の強誘電性の向上 |
女屋 崇 |
生田目 俊秀, 澤本 直美, 大井 暁彦, 池田 直樹, 知京 豊裕, 小椋 厚志 |
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「電子デバイス界面テクノロジー研究会 −材料・プロセス・デバイス特性の物理−」(第23回) |
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2018年1月19日 |
GaNエピタキシャル基板のための反応性スパッタ法によるAlNバッファー層作成条件の検討 |
立島 滉大 |
長田 貴弘, 石橋 啓次, 高橋 健一郎, 鈴木 摂, 小椋 厚志, 知京 豊裕 |
「電子デバイス界面テクノロジー研究会 −材料・プロセス・デバイス特性の物理−」(第23回) |
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2018年1月20日 |
Sb添加高Sn濃度MOCVD-GeSn薄膜の硬X線光電子分光法(HAXPES)による化学結合状態解析 |
臼田 宏治 |
吉木 昌彦, 須田 耕平, 小椋 厚志, 富田 充裕 |
「電子デバイス界面テクノロジー研究会 −材料・プロセス・デバイス特性の物理−」(第23回) |
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2018年3月17日 |
ラマン分光法による多結晶シリコン粒内のナノ結晶構造評価(V) |
三野 伸晃 |
横川 凌, 鈴木 貴博, 高橋 和也, 小森 克彦, 森本 保, 澤本 直美, 小椋 厚志 |
第65回応用物理学会 春季学術講演会 |
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2018年3月17日 |
“テラワット発電に向けて:結晶シリコン太陽電池技術の新たな展開”― はじめに − |
小椋 厚志 |
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第65回応用物理学会 春季学術講演会 |
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2018年3月17日 |
上下ZrO2核生成層によるHfxZr1−xO2薄膜の強誘電性の改善 |
女屋 崇 |
生田目 俊秀, 澤本 直美, 大井 暁彦, 池田 直樹, 知京 豊裕, 小椋 厚志 |
第65回応用物理学会 春季学術講演会 |
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2018年3月17日 |
無極性AlN薄膜成長のためのスパッタ法を用いたMnSバッファー層作製条件の検討 |
立島 滉大 |
長田 貴弘, 石橋 啓次, 高橋 健一郎, 鈴木 摂, 小椋 厚志, 知京 豊裕 |
第65回応用物理学会 春季学術講演会 |
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2018年3月18日 |
硬X線光電子分光法を用いたITO/a-Si界面特性の評価 |
西原 達平 |
小島 拓人, 肥山 卓矢, 松村 英樹, 神岡 武文, 大下 裕雄, 安野 聡, 廣沢 一郎, 小椋 厚志 |
第65回応用物理学会 春季学術講演会 |
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2018年3月18日 |
太陽電池用Cz-Siにおける酸素析出が金属ゲッタリングに与える影響 |
大西 康平 |
小島 拓人, 木下 晃輔, 大下 祥雄, 小椋 厚志 |
第65回応用物理学会 春季学術講演会 |
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2018年3月18日 |
太陽電池用n型Cz-Siの結晶成長条件が熱処理後の酸素析出に与える影響−赤外線トモグラフィーによる評価 |
木下 晃輔 |
小島 拓人, 大下 祥雄, 小椋 厚志 |
第65回応用物理学会 春季学術講演会 |
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2018年3月18日 |
電子線照射Si結晶の室温フォトルミネッセンスで観測されるC-line近傍発光の起源 |
田島 道夫 |
木内 広達, 石川 陽一郎, 小椋 厚志 |
第65回応用物理学会 春季学術講演会 |
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2018年3月18日 |
電子線照射Si結晶の室温フォトルミネッセンスで観測されるC-line近傍発光を利用した炭素評価 |
石川 陽一郎 |
田島 道夫, 木内 広達, 三好 一智, 小椋 厚志 |
第65回応用物理学会 春季学術講演会 |
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2018年3月18日 |
多結晶シリコンの非鏡面表面における機械学習を用いたエッチピット検出 |
小島 拓人 |
小椋 厚志, 福井 健次, 古茂田 学, 跡部 淳一 |
第65回応用物理学会 春季学術講演会 |
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2018年3月19日 |
Si-IGBTプロセスによるFZ-Siの少数キャリアライフタイムへの影響評価 |
小林 弘人 |
横川 凌, 鈴木 貴博, 沼沢 陽一郎, 小椋 厚志, 西澤 伸一, 更屋 拓哉, 伊藤 和夫, 高倉 俊彦, 鈴木 慎一, 福井
宗利, 竹内 潔, 平本 俊郎 |
第65回応用物理学会 春季学術講演会 |
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2018年3月19日 |
p型結晶シリコン太陽電池の電極用ペーストがPIDに及ぼす影響 |
城内 紗千子 |
田中 亜樹, 村松 和郎, 中村 京太郎, 小椋 厚志, 大下 祥雄 |
第65回応用物理学会 春季学術講演会 |
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2018年3月20日 |
熱電デバイス用組成傾斜SiGeワイヤの構造評価 |
横川 凌 |
橋本 修一郎, 高橋 恒太, 大場 俊輔, 富田 基裕, 黒澤 昌志, 渡邉 孝信, 小椋 厚志 |
第65回応用物理学会 春季学術講演会 |
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2018年3月20日 |
共スパッタ法と(t-C4H9)2S2を用いた硫化によるMoS2(1-x) Te2x混晶の成膜 |
日比野 祐介 |
石原 聖也, 小柳 有矢, 澤本 直美, 大橋 匠, 松浦 賢太郎, 町田 英明, 石川 真人, 須藤 弘, 若林 整, 小椋
厚志 |
第65回応用物理学会 春季学術講演会 |
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2018年3月20日 |
逆格子空間マッピングによるGe1-XSnXメサ構造における異方的格子定数評価 |
広沢 一郎 |
村上 達海, 須田 耕平, 高橋 祐樹, 吉岡 和俊, 横川 凌, 小椋 厚志 |
第65回応用物理学会 春季学術講演会 |
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2018年3月20日 |
Migration制御したスパッタリング法による2次元層状MoS2成膜 |
大橋 匠 |
坂本 拓朗, 松浦 賢太朗, 清水 淳一, 外山 真矢人, 石原 聖也, 日比野 祐介, 宗田 伊理也, 角嶋 邦之, 筒井
一生, 小椋 厚志, 若林 整 |
第65回応用物理学会 春季学術講演会 |
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2018年9月7日 |
少数キャリアライフタイムによる半導体プロセスの評価手法の提案 |
角嶋 邦之 |
星井 拓也, 渡辺 正裕, 執行 直之, 古川 和由, 更屋 拓哉, 高倉 俊彦, 伊藤 一夫, 福井 宗利, 鈴木 慎一, 竹内
潔, 宗田 伊理也, 若林 整, 沼沢 陽一郎, 小椋 厚志, 西澤 伸一, 筒井 一生, 平本 俊郎, 大橋 弘通, 岩井 洋 |
平成30年 電気学会 電子・情報・システム部門大会 |
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2018年9月18日 |
共スパッタ法と硫化によって作製したMoS2(1-x)Te2x膜の構造評価 |
⽇⽐野 祐介 |
石原 聖也, 小柳 有矢, 澤本 直美, 松浦 賢太郎, 町田 英明, 石川 真人, 須藤 弘, 若林 整, 小椋 厚志 |
第79回 応用物理学会秋季学術講演会 |
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2018年9月18日 |
DCバイアススパッタ法を⽤いて作製したMoS2膜のラマン分光評価 |
⼩柳 有⽮ |
石原 聖也, 日比野 祐介, 澤本 直美, 大橋 匠, 松浦 賢太朗, 若林 整, 小椋 厚志 |
第79回 応用物理学会秋季学術講演会 |
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2018年9月18日 |
逆格⼦空間マッピングを⽤いたGe1-xSnxメサ構造の3軸歪評価 |
⾼橋 祐樹 |
横川 凌, 廣沢 ⼀郎, 須⽥ 耕平, ⼩椋 厚志 |
第79回 応用物理学会秋季学術講演会 |
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2018年9月18日 |
パターン加⼯したカーボンドープシリコンにおける歪緩和の評価 |
吉岡 和俊 |
横川 凌, 澤本 直美, ⼩椋 厚志 |
第79回 応用物理学会秋季学術講演会 |
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2018年9月18日 |
C及びGeイオン注⼊後にレーザーアニールを施したSiGe薄膜の歪評価 |
⼩孫 翔⼤ |
村上 達海, 吉岡 和俊, 横川 凌, 澤本 直美, John Borland, 黒井 隆, 田畑 俊行, Karim Huet,
堀口 直人, 小椋 厚志 |
第79回 応用物理学会秋季学術講演会 |
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2018年9月18日 |
液浸ラマン分光法で観測される⾼濃度SiGeラマンスペクトルのブロードピークを利⽤したGe濃度定量 |
横川 凌 |
⼩原⽥ 賢聖, 吉岡 和俊, ⽯原 聖也, ⾅⽥ 宏治, ⼩椋 厚志 |
第79回 応用物理学会秋季学術講演会 |
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2018年9月19日 |
Si-IGBTプロセスによるFZ-Siの少数キャリアライフタイムへの影響評価-II- |
⼩林 弘⼈ |
横川 凌, 木下 浩輔, 沼沢 陽一郎,
小椋 厚志, 西澤 伸一, 更屋 拓哉, 伊藤 一夫, 高倉 俊彦, 鈴木 慎一, 福井 宗利, 竹内 潔, 平本 俊郎 |
第79回 応用物理学会秋季学術講演会 |
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2018年9月19日 |
LiNbO3の焦電効果によるグラフェンの電気特性制御の検討 |
安原 雄⼤ |
知京 豊裕, 小椋 厚志, 長田 貴弘 |
第79回 応用物理学会秋季学術講演会 |
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2018年9月19日 |
MoOx/SiO2界⾯のHAXPES分析 |
神岡 武⽂ |
安野 聡, Hyunju Lee, 小島 拓人, 西原 達平, 林 豊, 中村 京太郎, 大下 祥雄, 小椋 厚志 |
第79回 応用物理学会秋季学術講演会 |
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2018年9月19日 |
大面積集積化に向けたスパッタMoS2 薄膜を用いたTop-Gate nMISFETs |
松浦 賢太朗 |
清水 淳一, 外山 真矢人, 大橋 匠, 宗田 伊理也, 石原 聖也, 角嶋 邦之, 筒井 一生, 小椋 厚志, 若林 整 |
第79回 応用物理学会秋季学術講演会 |
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2018年9月20日 |
太陽電池⽤Cz-Siの結晶成⻑条件が熱処理後の酸素析出および転位形成に与える影響 |
⽊下 晃輔 |
⼩島 拓⼈, ⼤⻄ 康平, ⼤下 祥雄, ⼩椋 厚志 |
第79回 応用物理学会秋季学術講演会 |
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2018年9月20日 |
太陽電池⽤Cz-Siにおける酸素析出が⾦属ゲッタリングに与える影響 (2) |
⼤⻄ 康平 |
⼩島 拓⼈, ⽊下 晃輔, ⼤下 祥雄, ⼩椋 厚志 |
第79回 応用物理学会秋季学術講演会 |
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2018年9月20日 |
ラマン分光法による酸化膜を被覆したSOI薄膜の熱伝導特性評価 |
横川 凌 |
富⽥ 基裕, 渡邉 孝信, ⼩椋 厚志 |
第79回 応用物理学会秋季学術講演会 |
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2018年9月20日 |
反応性プラズマ蒸着法によるITO/a-Si界⾯化学結合状態の硬X線光電⼦分光法による |
⻄原 達平 |
小島 拓人, 金井 皓輝, 松村 英樹, 神岡 武文, 大下 祥雄, 安野 聡, 廣沢 一郎, 小椋 厚志 |
第79回 応用物理学会秋季学術講演会 |
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2018年9月20日 |
NBIS測定によるAl2O3パッシベーション膜を⽤いたIn1-xSixO1-yCy TFTの信頼性評価 |
栗島 ⼀徳 |
生田目 俊秀, 女屋 崇, 塚越 一仁, 大井 暁彦, 池田 直樹, 長田 貴弘, 小椋 厚志 |
第79回 応用物理学会秋季学術講演会 |
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2018年9月20日 |
ZrO2シード層による強誘電体HfxZr1-xO2薄膜形成 |
⽣⽥⽬ 俊秀 |
⼥屋 崇, 澤本 直美, ⼤井 暁彦, 池⽥ 直樹, ⼩椋 厚志 |
第79回 応用物理学会秋季学術講演会 |
招待講演 |
2018年9月21日 |
「講演奨励賞受賞記念講演」(15分)ナノZrO2核生成層を用いた強誘電体HfxZr1−xO2薄膜の作製技術 |
⼥屋 崇 |
⽣⽥⽬ 俊秀, 澤本 直美, ⼤井 暁彦, 池⽥ 直樹, ⻑⽥ 貴弘,小椋 厚志 |
第79回 応用物理学会秋季学術講演会 |
招待講演 |
2018年9月21日 |
反応性スパッタ法を⽤いた無極性AlN薄膜成⻑における⾃⼰電圧効果の検討 |
⽴島 滉⼤ |
長田貴弘, 石橋啓次, 高橋健一郎, 鈴木摂, 小椋 厚志, 知京 豊裕 |
第79回 応用物理学会秋季学術講演会 |
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2018年9月21日 |
p型結晶シリコン太陽電池の電極⽤ペーストがPIDに及ぼす影響(U) |
城内紗千⼦ |
田中 亜樹, 村松 和郎, 齋藤 元希, 中村 京太郎, 小椋 厚志, 大下 祥雄, 増田 淳 |
第79回 応用物理学会秋季学術講演会 |
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2018年10月18日 |
ラマン分光法による熱電デバイス応用へ向けたSiナノワイヤのプロセス評価 |
横川 凌 |
富田基裕, 渡邉孝信, 小椋厚志 |
電子通信学会、シリコン材料・デバイス研究会(SDM) |
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2018年11月19日 |
スパッタによる層状物質作製 |
日比野 祐介 |
石原 聖也, 小柳 有矢, 澤本 直美, 松浦 賢太郎, 坂本 拓郎, 濱田 昌也, 若林 整, 小椋 厚志 |
日本真空表面学会 |
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2019年1月25日 |
原子層堆積法の酸化剤ガスが強誘電体HfxZr1-xO2薄膜の低温形成へ及ぼす効果 |
女屋 崇 |
生田目 俊秀, 澤本 直美, 栗島 一徳, 大井 暁彦, 池田 直樹, 長田 貴弘, 小椋 厚志 |
「電子デバイス界面テクノロジー研究会 ―材料・プロセス・デバイス特性の物理―」 (第24回研究会) |
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2019年1月25日 |
ラマン分光法によるAr+イオンを照射した酸化膜被覆型Siナノワイヤの熱伝導特性評価 |
横川 凌 |
富田 基裕, 渡邉 孝信, 小椋 厚志 |
「電子デバイス界面テクノロジー研究会 ―材料・プロセス・デバイス特性の物理―」 (第24回研究会) |
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2019年1月26日 |
低温度ALD法を用いてAl2O3及びSiO2下地基板へ形成したIn2O3膜の特性 |
小林 陸 |
生田目 俊秀, 栗島 一徳, 木津 たきお, 女屋 崇 , 大井 暁彦, 池田 直樹, 長田 貴弘, 塚越 一仁, 小椋 厚志 |
「電子デバイス界面テクノロジー研究会 ―材料・プロセス・デバイス特性の物理―」 (第24回研究会) |
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2019年1月26日 |
LiNbO3の焦電効果によるグラフェンの電気特性制御の検討 |
安原 雄大 |
知京 豊裕, 小椋 厚志, 長田
貴弘 |
「電子デバイス界面テクノロジー研究会 ―材料・プロセス・デバイス特性の物理―」 (第24回研究会) |
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2019年1月26日 |
反応性スパッタ法によるr面サファイア基板上無極性AlN薄膜作製条件の検討 |
立島 滉大 |
長田 貴弘, 石橋 啓次, 高橋 健一郎, 鈴木 摂, 小椋 厚志, 知京 豊裕 |
「電子デバイス界面テクノロジー研究会 ―材料・プロセス・デバイス特性の物理―」 (第24回研究会) |
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2019年1月26日 |
Al2O3パッシベーション膜によるIn-Si-O-C TFTの正負バイアスストレス特性の改善 |
栗島 一徳 |
生田目 俊秀, 女屋 崇, 塚越 一仁, 大井 暁彦, 池田 直樹, 長田 貴弘, 小椋 厚志 |
「電子デバイス界面テクノロジー研究会 ―材料・プロセス・デバイス特性の物理―」 (第24回研究会) |
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2019年3月9日 |
太陽電池用Cz-Siにおける酸素析出が金属ゲッタリングに与える影響(3) |
大西 康平 |
木下 晃輔, 大下 祥雄, 小椋 厚志 |
第66回応用物理学会 春季学術講演会 |
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2019年3月9日 |
ラマン分光法による酸化膜を被覆したSiナノワイヤ界面近傍の熱伝導特性評価 |
横川 凌 |
富田 基裕, 渡邉 孝信, 小椋 厚志 |
第66回応用物理学会 春季学術講演会 |
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2019年3月9日 |
ラマン分光法を用いたプラズマCVD堆積SiNおよびa-C膜の応力評価 |
小原田 賢聖 |
横川 凌, 小椋 厚志 |
第66回応用物理学会 春季学術講演会 |
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2019年3月9日 |
透明導電膜のスパッタリング堆積による下地へのダメージ評価 |
西原 達平 |
神岡 武文, 金井 皓輝, 大下 祥雄, 大川 登志郎, 小椋 厚志 |
第66回応用物理学会 春季学術講演会 |
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2019年3月9日 |
ラマン分光法による多結晶シリコン粒内のナノ構造が及ぼす熱伝導特性評価 |
竹内 悠希 |
横川 凌, 高橋 和也, 小森 克彦, 森本 保, 澤本 直美, 小椋 厚志 |
第66回応用物理学会 春季学術講演会 |
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2019年3月9日 |
Si基板中に導入されるRPDプロセスダメージ層のキャリア再結合特性 |
神岡 武文 |
磯貝 勇樹, Lee Hyunju, 脇田 陸, 原 知彦, 林 豊, 中村 京太郎, 大下 祥雄, 小椋 厚志 |
第66回応用物理学会 春季学術講演会 |
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2019年3月9日 |
F.G.アニールによるMoSi2/スパッタMoS2界面コンタクト抵抗低減 |
松浦 賢太朗 |
濱田 昌也, 坂本 拓朗, 谷川 晴紀, 宗田 伊理也, 石原 聖也, 角嶋 邦之, 筒井 一生, 小椋 厚志, 若林 整 |
第66回応用物理学会 春季学術講演会 |
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2019年3月10日 |
300 ℃低温形成したHfxZr1−xO2薄膜の強誘電性 |
女屋 崇 |
生田目 俊秀, 澤本 直美, 大井 暁彦, 池田 直樹, 長田 貴弘, 小椋 厚志 |
第66回応用物理学会 春季学術講演会 |
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2019年3月11日 |
LiNbO3の極性と焦電効果がグラフェンの電気特性に及ぼす影響 |
安原 雄大 |
知京 豊裕, 小椋 厚志, 長田 貴弘 |
第66回応用物理学会 春季学術講演会 |
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2019年3月11日 |
反応性スパッタ法を用いたMnS/Si (100)上への無極性AlN薄膜作製条件の検討 |
立島 滉大 |
長田 貴弘, 石橋 啓次, 高橋 健一郎, 鈴木 摂, 小椋 厚志, 知京 豊裕 |
第66回応用物理学会 春季学術講演会 |
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2019年3月11日 |
DCバイアス印加した共スパッタ法によるMo1-xWxS2のコンビナトリアル成膜 |
橋本 侑祐 |
石原 聖也, 日比野 祐介, 小柳 有矢, 山ア 浩多, 小椋 厚志, 若林 整 |
第66回応用物理学会 春季学術講演会 |
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2019年3月11日 |
共スパッタおよびTe化によるMoS2(1-x)Te2x混晶作製条件の最適化 |
日比野 祐介 |
石原 聖也, 山崎 浩多, 小柳 有矢, 橋本 侑祐, 澤本 直美, 町田 英明, 石川 真人, 須藤 弘, 若林 整, 小椋
厚志 |
第66回応用物理学会 春季学術講演会 |
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2019年3月11日 |
Mo原料にi-Pr2DADMo(CO)3を用いたMOCVD MoS2膜の異なる成膜条件における膜質の評価 |
山崎 浩多 |
日比野 祐介, 石原 聖也, 小柳 有矢, 橋本 侑祐, 澤本 直美, 町田 英明, 石川 真人, 須藤 弘, 若林 整, 小椋
厚志 |
第66回応用物理学会 春季学術講演会 |
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2019年3月11日 |
Si-IGBTプロセスによるFZ-Siの少数キャリアライフタイムへの影響評価-III- |
小林 弘人 |
横川 凌, 木下 晃輔, 沼沢 陽一郎,
小椋 厚志, 西澤 伸一, 更屋 拓哉, 伊藤 一夫, 高倉 俊彦, 鈴木 慎一, 福井 宗利, 竹内 潔, 平本 俊郎 |
第66回応用物理学会 春季学術講演会 |
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2019年3月12日 |
水浸ラマン分光法によるパターン加工したカーボンドープシリコンにおける歪緩和の評価 |
吉岡 和俊 |
横川 凌, 澤本 直美, 小椋 厚志 |
第66回応用物理学会 春季学術講演会 |
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2019年3月12日 |
電子線照射発光活性化室温PL法によるシリコン結晶中の炭素定量の誤差要因の検討 |
石川 陽一郎 |
田島 道夫, 松岡 竜太郎, 小椋 厚志 |
第66回応用物理学会 春季学術講演会 |
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2019年3月12日 |
逆格子空間マッピングを用いたGe1-xSnxメサ構造における歪緩和評価 |
高橋 祐樹 |
横川 凌, 廣沢 一郎, 須田 耕平, 小椋 厚志 |
第66回応用物理学会 春季学術講演会 |
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2019年3月12日 |
液浸ラマン分光法による組成傾斜SiGeワイヤの異方性二軸応力分布評価 |
横川 凌 |
高橋 恒太, 富田 基裕, 黒澤 昌志, 渡邉 孝信, 小椋 厚志 |
第66回応用物理学会 春季学術講演会 |
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2019年4月18日 |
放射光を用いたIV族半導体の物性評価 |
横川 凌 |
小椋 厚志 |
第150回結晶工学分科会研究会(応用物理学会) |
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2019年8月8日 |
5Vゲート駆動による3300VスケーリングIGBTのスイッチング動作 |
平本 俊郎 |
更屋 拓哉, 伊藤 一夫, 高倉 俊彦, 福井 宗利, 鈴木 慎一, 竹内 潔, 附田 正則, 沼沢 陽一郎, 佐藤 克己, 末代
知子, 齋藤 渉, 角嶋 邦之, 星井 拓也, 古川 和由, 渡辺 正裕, 執行 直之, 若林 整, 筒井 一生, 岩井 洋, 小椋 厚志, 西澤 伸一,
大村 一郎, 大橋 弘通 |
電子情報通信学会SDM/ICD研究会8月研究会 |
招待講演 |
2019年8月30日 |
X 線非弾性散乱によるバルク SiGe(x=0.72)単結晶のフォノン分散測定 |
臼田 宏治 |
米永 一郎, 小柳 有矢, 横川 凌, 小椋 厚志 |
日本学術振興会産学連携145委員会 第164回研究会 |
招待講演 |
2019年9月18日 |
実験室系硬X線光電子分光法による埋もれた界面の化学結合状態評価 |
西原 達平 |
金井 皓輝, 横川 凌, 廣沢 一郎, 安野 聡, 大川 登志郎, 小椋 厚志 |
第80回 応用物理学会秋季学術講演会 |
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2019年9月18日 |
ラマン分光法による酸化膜被覆プロセスの異なるSOI薄膜における熱伝導特性評価 |
竹内 悠希 |
横川 凌, 富田 基裕, 渡邉 孝信, 小椋 厚志 |
第80回 応用物理学会秋季学術講演会 |
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2019年9月18日 |
ラマン分光法を用いたWigglingシリコン窒化膜パターンによる応力評価 |
小原田 賢聖 |
横川 凌, 澤本 直美, 吉岡 和俊, 小椋 厚志 |
第80回 応用物理学会秋季学術講演会 |
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2019年9月18日 |
レーザーアニール又はRTAを施したSnドープSiGe膜の歪評価 |
小孫 翔大 |
横川 凌, 吉岡 和俊, 澤本 直美, ボーランド ジョン, 黒井 隆, 川崎 洋司, 小椋 厚志 |
第80回 応用物理学会秋季学術講演会 |
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2019年9月19日 |
高濃度SiGeラマンスペクトルの局在振動モードを利用したGe濃度定量 |
横川 凌 |
竹内 悠希, 吉岡 和俊, 小椋 厚志 |
第80回 応用物理学会秋季学術講演会 |
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2019年9月19日 |
XAFS測定を用いた低温下におけるSi基板上SiGe薄膜の局所構造評価 |
吉岡 和俊 |
横川 凌, 高橋 祐樹, 竹内 悠希, 広沢 一郎, 渡辺 剛, 小椋 厚志 |
第80回 応用物理学会秋季学術講演会 |
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2019年9月19日 |
X線非弾性散乱法で観測される低エネルギー側Bulk SiGeフォノンスペクトルの考察 |
横川 凌 |
竹内 悠希, 吉岡 和俊, 荒井 康智, 内山 裕士, 富田 基裕, 小椋 厚志 |
第80回 応用物理学会秋季学術講演会 |
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2019年9月19日 |
Coスパッタ条件によるMoS2(1-x)Te2x混晶の構造変化 |
日比野 祐介 |
橋本 侑祐, 山崎 浩多, 小柳 有矢, 澤本 直美, 町田 英明, 石川 真人, 須藤 弘, 若林 整, 小椋 厚志 |
第80回 応用物理学会秋季学術講演会 |
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2019年9月19日 |
aSi:H/cSiヘテロ接合Si太陽電池の表面欠陥・トラップ準位評価手段
−表面反転層ラテラル少数キャリア等価移動度 (1)− |
神岡 武文 |
林 豊, 後藤 和泰, 尾崎 亮, 森村 元勇, 内藤 志麻子, 宇佐美 徳隆, 大下 祥雄, 小椋 厚志 |
第80回 応用物理学会秋季学術講演会 |
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2019年9月19日 |
バンド構造制御に基づく次世代高効率結晶シリコン太陽電池 |
大下 祥雄 |
小椋 厚志 |
第80回 応用物理学会秋季学術講演会 |
招待講演 |
2019年9月20日 |
ZnO /LiNbO3構造の電気特性の極性及び温度依存性 |
安原 雄大 |
栗島 一徳, 知京 豊裕, 小椋 厚志, 長田 貴弘 |
第80回 応用物理学会秋季学術講演会 |
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2019年9月20日 |
薄型フレキシブルSi太陽電池へ向けたスライスダメージ評価 |
大西 康平 |
横川 凌, 西原 達平, 神岡 武文, 中村 京太郎, 大下 祥雄, 河津 知之, 長井 俊樹, 山田 昇, 宮下 幸雄, 小椋
厚志 |
第80回 応用物理学会秋季学術講演会 |
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2019年9月20日 |
低温ALD法で作製したCドープIn2O3膜を用いた酸化物TFTの特性 |
小林 陸 |
生田目 俊秀, 栗島 一徳, 女屋 崇, 大井 暁彦, 池田 直樹, 長田 貴弘, 塚越 一仁, 小椋 厚志 |
第80回 応用物理学会秋季学術講演会 |
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2019年9月20日 |
太陽電池用Si基板中のプラズマプロセス誘起ダメージ評価 |
大西 康平 |
原 豊, 西原 達平, 金井 皓輝, 神岡 武文, 大下 祥雄, 小椋 厚志 |
第80回 応用物理学会秋季学術講演会 |
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2019年9月20日 |
透明導電膜のスパッタリング堆積によるプロセスダメージの評価 |
金井 皓輝 |
西原 達平, 神岡 武文, 松崎 淳介, 高橋 明久, 清田 淳也, 安野 聡, 廣沢 一郎, 小椋 厚志 |
第80回 応用物理学会秋季学術講演会 |
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2019年11月8日 |
硬X 線光電子分光を用いた無極性AlN/MnS のバンドアライメント解析 |
栗島一徳 |
立島滉大, 山下良之, 上田 茂典, 石橋 啓次, 高橋 健一郎, 鈴木 摂, 小椋 厚志, 知京 豊裕, 長田 貴弘 |
日本電子材料技術協会 第56 回秋期講演大会 |
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2019年11月8日 |
LiNbO3 の極性及び焦電性がZnO/LiNbO3 構造の電気特性に及ぼす影響 |
安原 雄大 |
栗島一徳, 小椋厚志, 知京豊裕, 長田貴弘 |
日本電子材料技術協会 第56 回秋期講演大会 |
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2019年11月29日 |
5Vゲート駆動による3300VスケーリングIGBTの動作実証 |
更屋 拓哉 |
伊藤 一夫, 高倉 俊彦, 福井 宗利, 鈴木 慎一, 竹内 潔, 附田 正則, 佐藤 克己, 末代 知子, 斎藤 渉, 角嶋
邦之, 星井 拓也, 古川 和由, 渡辺 正裕, 執行 直之,
若林 整, 筒井 一生, 岩井 洋, 小椋 厚志, 西澤 伸一, 大村 一郎, 大橋 弘通, 平本 俊郎 |
電気学会 電子デバイス半導体電力変換 合同研究会 |
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