FDL Surface Analyzer



これは、Si基板上にパルスレーザアブレーション法によって成膜した β-FeSi2薄膜中のSiの2s軌道の分析である。 Si-Oの化学結合による信号とSi-Feの化学結合による信号が見られる。

programmed by D.Barada (ce00040@isc.meiji.ac.jp)

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